連接器接插件環(huán)境規(guī)范要求之高溫測(cè)試

來源：本站發(fā)布時(shí)間：2019/01/02

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測(cè)試名稱：連接器接插件環(huán)境規(guī)范要求之高溫測(cè)試

測(cè)試目的：為了評(píng)估樣品處于高溫環(huán)境之承受能力的測(cè)試，以探究樣本因高溫失效的原因及先期規(guī)劃。

測(cè)試依據(jù)：業(yè)界規(guī)范MIL-STD-1344A, METHOD 1005

測(cè)試設(shè)備：高溫烤箱

測(cè)試方法：

1、將受測(cè)之樣品放置于預(yù)先設(shè)定好的烤箱內(nèi)。

2、預(yù)熱烤箱至所指定之溫度及設(shè)定測(cè)試總時(shí)間如：85±2 ℃共計(jì)300小時(shí)。

注意事項(xiàng)：

1、通常樣本為MARING狀態(tài)方可接受測(cè)試。

2、樣本取出烤箱后直到常溫時(shí)，方可執(zhí)行后續(xù)之測(cè)試。

3、若有特別規(guī)定，需量測(cè)樣本本身的溫度，而非只是對(duì)烤箱溫度作量測(cè)。

連接器接插件環(huán)境規(guī)范要求之高溫測(cè)試

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